1. 粉末滴樣法
適用范圍:可直接分散于溶劑中的粉末樣品/納米粒子。由于TEM透射電鏡觀察時,尺寸太大/太厚的顆粒不能被電子束穿透,所以納米粒子尺寸/厚度最好在亞微米或納米尺度。
案例:量子點,納米線,納米片,塊體材料經研磨后的粉末,等等。
操作方法:將粉末放在溶劑里(無水乙醇,蒸餾水,己烷,等等),采用超聲分散均勻后(一般選擇20分鐘左右,特殊情況需注明),滴在支持膜(普通碳膜,超薄碳膜,微柵,銅網,金網,鉬網,等等)上,干燥后進行透射電鏡觀察。
2. 樹脂包埋法+離子減薄法
適用范圍:由于尺寸較大,不可直接分散于溶劑中的顆粒樣品。
包埋劑:理想的包埋劑應具有高強度,高溫穩定性,與多種溶劑(如乙醇、丙酮等)不起反應,常用的幾種包埋劑: G-1, G-2,610,812E。
制樣方法:樹脂包埋后, 采用超薄切片制備TEM樣品;或采用機械研磨的方法減薄至50μm左右,然后氬離子轟擊減薄。具體過程根據實驗材料及測試目的進行選擇。 3.塊體金屬樣品FIB制樣; 4.塊體平面樣品離子減薄制樣; 5.碳膜之間的區別以及如何選擇; 6.透射電鏡操作實戰視頻;
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